Rein | Lifetime Spectroscopy | Buch | 978-3-540-25303-7 | sack.de

Buch, Englisch, 492 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1035 g

Reihe: Springer Series in Materials Science

Rein

Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
2005
ISBN: 978-3-540-25303-7
Verlag: Springer Berlin Heidelberg

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Buch, Englisch, 492 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1035 g

Reihe: Springer Series in Materials Science

ISBN: 978-3-540-25303-7
Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.

Rein Lifetime Spectroscopy jetzt bestellen!

Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Rein, Stefan

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

Theory of carrier lifetime in silicon.- Lifetime measurement techniques.- Theory of lifetime spectroscopy.- Defect characterization on intentionally metal-contaminated silicon samples.- The metastable defect in boron-doped Czochralski silicon.- Summary and further work.- Zusammenfassung und Ausblick.

10/99 "Gustav-Mie-Preis" awarded for the diploma thesis by the Faculty of Physics at Albert-Ludwigs-University Freiburg

09/99 – 05/04 PhD thesis in physics at Fraunhofer ISE and University of Konstanz:
"Lifetime spectroscopy as a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications" (overall grade: summa cum laude)

08/95 – 01/97 Undergraduate assistant at Fraunhofer ISE in the area of solar cell
characterization

12/98 – 08/99 Research assistant at Fraunhofer ISE
1. in the department of solar cells – materials – technology
2. in the department of thermal optical systems

06/04 – today Research assistant at Fraunhofer ISE

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.


OSZAR »